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“安柏代理AT770电感测试仪”参数说明
| 品牌： | 安柏 | 加工定制： | 否 |
| 类型： | 数字电桥 | 电阻测量范围： | 30/50/100Ω |
| 准确度等级： | 0.01 | 重量： | 5 |
| 型号： | AT770电感测试仪 | 规格： | AT770电感测试仪 |
| 商标： | 安柏 | 包装： | 纸箱 |
“安柏代理AT770电感测试仪”详细介绍
测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口
测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口
测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口测试参数：L, Q, ESR, EPR；准确度：0.1%，VFD显示，最大33000读数测试频率：100Hz, 120Hz, 1kHz, 10kHz 电平：0.1V, 0.3V, 1.0V，输出阻抗：30/100Ω三参数显示,最高15次/秒测试，20组记录，5档分选，RS232和Handler接口